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電路板檢測(cè)
検出優(yōu)位超広幅X範(fàn)囲：一般的な回路基板に対して複數(shù)回の高ダイナミック範(fàn)囲をスキャンする必要はない：同時(shí)に各種材料の高度高速全検査を検出することができる：単回スキャンは同時(shí)に高度異常を検出することができる。半田異常、デバイス異常などの場(chǎng)合。
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